1.目的
前回の実験では、R/Wミスを起こすことがあまりにも困難であったため、より誤動作を招くためにプログラムの修正を行う。
2.方法
プログラムは、前回と同様なものを使用する。
※ただし、今回は誤動作を起こしやすくするため、 Write時の待機時間を3msとしそれ以外の待機時間を削除した。
3.結果
試行を重ねたが誤動作や破損といった不具合が検出されなかったため、今回のEEPROM耐久試験を中断した。
試行回数は1億8750万回と2億0795万回となった。
4.今後の課題
EEPROMに十分な耐久性があることが立証されたため、EEPROMの耐久試験を終了する。
