1.目的
前回のEEPROM耐久試験は上限回数を設け、上限数間での正誤カウント、実行時間を把握するといった内容であったが今回は上限回数を設けずEEPROMの耐久テストを行う。
2.方法
前回作成したプログラムを使用する。
目的で述べたとおりの上限を設けない形にするよりも 、今回はlong int型の上限でも十分に試行回数が多いことがわかったため、unsigned long int 上限付近の42億回を試行回数にすることにした。
耐久試験1の結果から、試行回数と実行時間はほぼ比例することがわかったので、42億回試行するにあたっては、約2年と278日かかることがわかる。
3.結果
現在、4235万回試行、書き込み間違いなし。
6/12現在、読み込み時一時的に遅くなるや画面での乱れを発見。
4.今後の課題